Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機

產品型號：iKon-L SY
更新時間：2025-10-17
產品介紹：Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。
在線留言 18862177052

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動態范圍和快速探測的CCD、sCMOS和EMCCD相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機特性：

TE冷卻至-55°C

95%的峰值QE高探測器靈敏度

標準配置為“獨立"鈹窗，厚度為250微米的鈹箔窗

13.5 x 13.5um像素大小動態范圍和分辨率的最佳平衡

超低噪聲讀出智能低噪聲電子設備提供最“安靜"的系統噪聲性能

產品規格	iKon-L SY
芯片類型	背照CCD
快門	全局快門
數據接口	USB 2.0
分辨率	2048 x 2048
彩色/黑白	黑白
幀率	0.953

上一篇：iStar 320TiStar系列門控像增強探測器

下一篇：Marana-X-6Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機

推薦產品

聯系我們

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：